依托 X 射线单晶/多晶衍射仪，对粉末、块体、薄膜等样品进行晶体结构解析、物相鉴定、晶粒尺寸与取向分析，是判断材料“是什么晶型、什么结构”的核心手段。
它回答“样品由哪些晶相组成、晶体结构怎样、晶粒多大、取向如何”。无论是新材料合成后的物相确认、未知粉末的定性，还是药物/矿物/薄膜的晶型质控，XRD 都是最常用、最权威的结构表征方法。
目前平台内 2 所高校、共 3 台仪器 可提供晶体与物相结构分析（XRD）服务，均支持送样检测。
单晶衍射常规数据采集
晶胞测试、样品上机
结构解析 I/II/III 级（含低温液氮）
常规测试（反射/透射/薄膜掠入射）
综合解谱 I–IV 级
中温/低温测试、原位充放电
粉末/块体/薄膜晶型测试
得到主要晶形、晶粒尺寸
优势结晶取向等信息
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