依托扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、X 射线显微镜、聚焦离子束(FIB)及激光共聚焦等显微平台,对材料、器件与生物样品进行纳米至微米尺度的形貌、结构、尺寸与界面观测,并可结合能谱(EDS)做微区成分分析。
它回答“样品长什么样、内部什么结构、表面与界面有什么特征”。从块体断口、粉末颗粒、薄膜涂层,到细胞器、蛋白复合物,都能在纳米级分辨率下直接“看”到,是材料研发、失效分析、工艺验证与生物表征最直观的手段。
目前平台内 3 所高校、共 10 台仪器 可提供微观形貌与结构成像服务,均支持送样检测。
生物/材料超薄切片样品的透射成像
透射成像
可选含 EDS / EFTEM / EELS 微区分析
三维内部结构无创成像
特殊部位扫描、图像处理
高分辨形貌观测
EDS 点/面/线扫描微区成分
冷冻/粉末制样、喷金/碳/铂
FIB 微纳加工、TEM 制样
三维 SEM / 三维 EDS
截面与微区表征
大气/液相形貌测量
表面电学、表面力学测量
原位电化学测量
冷冻/常温超薄与半薄切片
树脂包埋、切片染色
简单/复杂样品前处理
高分辨率成像、表面形貌分析
成分分析、纳米尺度测量
断裂面分析、表面缺陷检测
荧光标记下细胞离子比率与动态
FRAP/FRET、细胞动力学研究
单/群细胞三维结构成像
缺陷定量分析(深度/高度/面积/体积)
曲率半径等形貌参数分析
深圳市光明区公明街道产创融合促进中心 邮箱:szmma0755@126.com 地址:深圳市光明区公明街道光学路258号美信达科学里2栋1楼
电话:0755-21671401 粤ICP备17056946号-1 |
友情链接: |