
| 仪器编号 | |
| 中文名称 | 冷场发射透射电子显微镜 |
| 英文名称 | |
| 型号及规格 | JEM-F200 |
| 所在城市 | 中山大学分析测试中心深圳校区分中心 |
简介
JEOL公司生产的F200型透射电子显微镜(JEM-F200)是一款高性能场发射透射电镜,分辨率达0.19nm(TEM)和0.14nm(STEM),支持80kV和200kV加速电压。配备四级聚光镜系统、双能谱仪(EDS)和电子能量损失谱仪(EELS),适用于材料科学、半导体和生命科学等领域的高分辨率成像和成分分析。
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