帆泰检测产品质量保障与失效分析研讨会返回

 2014年9月26日深圳市帆泰检测举办了《产品质量保障与失效分析研讨会》,邀请了业内知名学者和专家一起共话失效分析。与会企业众多,现场十分火爆。

 

本次研讨会邀请了多位检测相关领域的专家、学者,就如何保障产品质量以及材料/元器件/PCB&PCBA失效分析与典型案例议题,和与会企业进行了深入的探讨及交流。

首先,由从事检测行业三十余年陈老专家就如何保障产品质量问题与大家探讨。陈老专家长期从事电子元器件可靠性技术研究,研究对象均为军工、重点工程电子产品,研究内容包括:预研、评价、加速、质量攻关、失效分析、技术反求等方法研究和工程应用项目,分别担任专业、课题、项目负责人,获得所、省、部科技成果奖22项,发表论文、著作数十篇。还曾是总装的专家组成员,参与各类军工任务立项、结项、招标等评审及专项培训;是国家国防重点实验室筹建、管理、引进与建设的主要组织成员,期间注重综合能力的培养,参与专业研究与科研管理。

 议题内容主要由产品执行标准、产品检测、产品分析和产品质量管理组成。产品执行标准主要指产品技术标准的作用及基本范围要求和企业标准的制定及基本要求;产品检测则侧重于产品检验目的、产品执行标准在产品检验中的作用、产品检验的类型、企业应具备哪些基本检验能力、第三方检验的作用、第三方检验是否可以替代这些问题;接下来,陈老专家就产品分析的目的及作用举了典型质量分析案例,并以此为基础,详细讲解了企业应该具有哪些分析能力和企业应如何充分利用社会资源等问题。

 接着,就材料/元器件/PCB&PCBA失效分析与典型案例,李二勇专家和与会各企业进行了研究交流。李二勇专家在富士康科技集团、中兴通讯等从事十余年原材料质量检测和失效分析(FA)工作,熟悉常见电子元器件、手机零部件的内部结构、生产工艺和测试方法,熟悉金属和塑胶结构件的机加、表面处理等工艺流程和常见故障原因,参与过Apple、Intel、技嘉、DELL等公司产品生产故障分析专案和数十起通讯产品研发和生产故障分析实例。李二勇专家就失效分析的流程和概述、材料失效类型、电子元器件失效模式与机理、PCB%PCBA常见失效现象做了详细讲解,并举显示器支架断裂、泵管断裂及MOS管封装破裂等典型案例给众多企业从实际情况中了解失效分析的重要性。

最后,与会企业就一些想法和疑问与专家学者们进行了现场交流和答疑,都得到了满意的解答。企业纷纷表示,希望以后能举办更多类似的研讨交流会,以便拉近专业知识与企业生产的距离,促进共同发展。



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