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仪器编号 CLJC-011
中文名称 扫描电子显微镜
英文名称 Scanning electron microscopy (SEM)
型号及规格 863:Quanta 200 FEG 中科纳通:SSX-550
所在城市 广东深圳
主要技术指标

测试项目

化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌) 、机械、电机及导电性样品,如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察)电子材料等。

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